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近年、有機半導体薄膜を用いた電子デバイスの展開が飛躍的に進んでおります。それに伴い有機半導体薄膜の
分析・解析技術が、有機デバイスの基礎と応用の両面で重要な役割を担っています。そこで、M&BE 分科会では、
有機デバイスに共通する有機半導体薄膜の分析技術に焦点を絞り、解析手法、何が分かるか、そして特に測定原
理に関し詳細に議論いただきます。また、ある物性に関して、異なる手法で得られる値の違いや意味に関しても
議論を行えるよう企画しています。
【プログラム】
①「新測定法による有機半導体の価電子準位と伝導準位」
吉田弘幸（京都大学）
②「光電子放出を利用した有機半導体の電子構造評価」
石井久夫（千葉大学）
③「電荷移動度と寿命の評価におけるPhoto-CELIV法と他測定法との比較」
森正悟（信州大学）
④「有機半導体の物性評価におけるTime-of-flight法の活用」
大野玲・半那純一（東京工業大学）
⑤「時間分解電界誘起光第2 次高調波法による有機半導体中のキャリヤ輸送と空間電荷の解析」
岩本光正（東京工業大学）
⑥「高速過渡分光法による有機半導体のキャリアダイナミクス解析」
大北英生（京都大学）
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